GB 10850-1989 铸造铝硅合金过烧
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 13:53:37 浏览:8893
来源:标准资料网
基本信息
标准名称: | 铸造铝硅合金过烧 |
中标分类: |
机械 >>
机械综合 >>
基础标准与通用方法 |
替代情况: | 调整为JB/T 7946.2-1995 |
发布日期: | |
实施日期: | 1990-01-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | |
页数: | 3页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 机械 机械综合 基础标准与通用方法
【英文标准名称】:Ductileironpipes,fittingsandaccessories-Externalpolyurethanecoatingforpipes-Requirementsandtestmethods;EnglishversionofDINEN15189:2007-02
【原文标准名称】:球墨铸铁管、配件和附件.管道外部聚亚安酯涂层.要求和试验方法
【标准号】:DINEN15189-2007
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2007-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:附件;铸铁;铸铁管;铸铁管道;防腐蚀;定义;可锻的;配件;功能效率;功能可靠性;功能;作标记;机械性能;管道;管;聚氨酯;质量保证;护壳;规范(验收);球墨铸铁;应力;表面防护;试验;地下;输水管道;水常规;水常规(实验)
【英文主题词】:
【摘要】:ThisEuropeanstandarddefinestherequirementsandtestmethodsapplicabletofactoryappliedexternalpolyurethanebasedcoatingsforheavyduty(AnnexD.3ofEN545:2002)corrosionprotectionofburiedductileironpipesconformingtoEN545,EN598andEN969foruseatoperatingtemperaturesupto50°C.Thisstandarddoesnotcoverductileironpipesprotectedwithzincwithafinishinglayerofpolyurethane.Thisstandarddoesnotcoverspecialactivitiesonsitesuchastapping,clamping,etc.,whichcouldaffectthecorrosionprotectionpropertiesofthepolyurethanecoating.Theseoperationsshouldbecoveredinthelayinginstructionssuppliedbymanufacturersofclamps,houseconnectionsaddles,etc.andanyrelevantuserprocedures.
【中国标准分类号】:H48
【国际标准分类号】:23_040_10;25_220_60
【页数】:21P.;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part38:softerrortestmethodforsemiconductordeviceswithmemory.
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第38部分:带存储的半导体装置用软错误试验
【标准号】:NFC96-022-38-2008
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2008-06-01
【实施或试行日期】:2008-06-28
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速的;α辐射;α辐射线;气候试验;组件;损伤;缺陷与故障;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;集成电路;干扰;测量;机械测试;电力电子学;半导体器件;半导体;测试;测试条件
【英文主题词】:Accelerated;Alpharadiation;Climatictests;Components;Damage;Defects;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Interferences;Measurement;Mechanicaltesting;Powerelectronics;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:17P.;A4
【正文语种】:其他